微波半導體器件多參數測試儀
文章來(lai)源：中國電子科技集團(tuan)有限公司 發布時(shi)間：2025-03-01
【成果簡介】
微波半導體器件多參數測試儀適用于集成電路設計驗證與量產測試應用場景，軟硬件平臺采用開放體系架構，通過對射頻、數字、模擬和源測量類測試資源的組合重構，可滿足不同通道規模與指標水平的功放、低噪放、開關、模組類射頻集成電路及DC/DC、ADC、DAC類數模混合集成電路高速測試需求。該產品具有S參數、頻譜參數、功率參數、時間參數、伏安參數、協議參數測試、多站并行測試、多型分選機適配、STDF標準數據收集等功能，整體上具有通道密度大、性能指標優異、測試效能高、數據產出規范等特點，技術就緒度達到8級，在性能上能夠替代進口設備，為國內主要集成電路生產測試廠家提供測試支撐。
【主要指標】
（一）輸入/輸出信號頻率范圍：100MHz-18GHz
（二）射頻信號通道數：16路
（三）數字最大數據速率 ：800Mbps
（四）數字信號通道數：512路
【應用推廣需求】
（一）應用推廣方式：銷售
（二）應用推廣領域：集成電路設計及封裝測試廠家。
【成果圖片】
【聯系人】
集團聯系人：宛少卓，13910861102，m13910861102@163.com
成果聯系人：汪定華，18505528366，wdingh2008@163.com
【責任編輯：梁(liang)詠詩】
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