文章來源:中國電子科(ke)技(ji)集團公司 發布(bu)時間:2024-05-20
127.微波半導(dao)體芯片綜合參數在片測試系統
【所(suo)屬領(ling)域】分析(xi)測(ce)試儀器
【中(zhong)央(yang)企業名稱】中(zhong)國電(dian)子科技(ji)集團公司
【成果簡介】
本產品采用(yong)基(ji)于相干信號的負載牽引以(yi)及基(ji)于矢量誤差修正的噪聲系(xi)數測(ce)量方案,具有(you)連續波及脈(mo)沖S參(can)(can)數、等(deng)功(gong)(gong)率(lv)圓、等(deng)效率(lv)圓、噪聲系(xi)數、交(jiao)調等(deng)參(can)(can)數的在片(pian)測(ce)量功(gong)(gong)能(neng),以(yi)及在片(pian)校(xiao)準(zhun)功(gong)(gong)能(neng)。產品測(ce)試功(gong)(gong)能(neng)豐富(fu),具有(you)反(fan)射系(xi)數調諧范(fan)圍大、測(ce)量速度(du)快、校(xiao)準(zhun)算法(fa)精(jing)確等(deng)特點(dian)。廣泛應用(yong)于微波功(gong)(gong)率(lv)芯(xin)片(pian)、低噪聲芯(xin)片(pian)、濾波芯(xin)片(pian)設(she)計、生產、檢驗等(deng)環(huan)節,為芯(xin)片(pian)設(she)計優化、工藝改進、生產檢驗提供測(ce)試支撐作(zuo)用(yong)。產品技術成(cheng)熟(shu)度(du)達到8級。
【主要指標】
(一)頻率(lv)范圍:10MHz~67GHz
(二)等噪聲系數圓頻率(lv)測量范圍:10MHz~67GHz
(三)噪聲系數測量(liang)范圍(wei):≥30dB
(四(si))Smith圓圖(反(fan)射系數(shu))最大調諧范圍:≥0.99
(五)探針間距精度:±25μm
(六)校準片類(lei)型(xing):TRL、SOLT校準片等系列
【應用推廣需求】
(一)應用推廣方式:銷(xiao)售
(二)應(ying)用推廣領域:本產品應(ying)用于微(wei)波半(ban)導(dao)(dao)體(ti)芯片的芯片設計、芯片制造、芯片檢驗、芯片應(ying)用等產業環節(jie),滿足(zu)微(wei)波半(ban)導(dao)(dao)體(ti)芯片、微(wei)波集成電路(MMIC)等微(wei)波半(ban)導(dao)(dao)體(ti)芯片的測試需(xu)求。
【成果圖片】

【聯系人】
集團聯系人:丁一(yi)牧,010-84352395(13552993699),dingyimu@vip.163.com
成(cheng)果聯系人:汪定華,18505528366,m13910851102@163.com
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【責任編輯:王莉】