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127.微波半導體芯(xin)片綜合參數在片測試系統(tong)

【所屬(shu)領域】分(fen)析(xi)測試儀器(qi)

【中(zhong)(zhong)央企業名稱】中(zhong)(zhong)國電子科技集(ji)團公司

【成果簡介】

本產品(pin)采(cai)用基于相干信號的負載牽引(yin)以及(ji)基于矢量誤差修正的噪(zao)聲(sheng)系(xi)數(shu)測量方案，具有連續(xu)波及(ji)脈沖(chong)S參(can)數(shu)、等(deng)(deng)功(gong)率(lv)(lv)圓(yuan)、等(deng)(deng)效率(lv)(lv)圓(yuan)、噪(zao)聲(sheng)系(xi)數(shu)、交調等(deng)(deng)參(can)數(shu)的在(zai)片(pian)測量功(gong)能(neng)，以及(ji)在(zai)片(pian)校準功(gong)能(neng)。產品(pin)測試功(gong)能(neng)豐富，具有反(fan)射系(xi)數(shu)調諧范圍(wei)大、測量速(su)度快、校準算法精(jing)確(que)等(deng)(deng)特點。廣(guang)泛應用于微波功(gong)率(lv)(lv)芯(xin)片(pian)、低噪(zao)聲(sheng)芯(xin)片(pian)、濾波芯(xin)片(pian)設計(ji)、生產、檢(jian)驗等(deng)(deng)環節，為芯(xin)片(pian)設計(ji)優化、工(gong)藝改進、生產檢(jian)驗提供測試支撐作用。產品(pin)技術(shu)成熟(shu)度達到8級。

【主要指標】

（一(yi)）頻(pin)率范圍：10MHz～67GHz

（二）等噪聲系數圓頻率測量范圍：10MHz～67GHz

（三）噪聲系數測量范圍：≥30dB

（四）Smith圓圖(tu)（反射(she)系數）最大調諧范圍：≥0.99

（五）探針間(jian)距精度：±25μm

（六）校準(zhun)片類型(xing)：TRL、SOLT校準(zhun)片等(deng)系列

【應用推廣需求】

（一）應用(yong)推(tui)廣方式：銷售(shou)

（二）應(ying)用(yong)推廣領域(yu)：本產品應(ying)用(yong)于(yu)微(wei)波半導體芯片(pian)(pian)的(de)芯片(pian)(pian)設計、芯片(pian)(pian)制造、芯片(pian)(pian)檢(jian)驗、芯片(pian)(pian)應(ying)用(yong)等產業環節，滿足微(wei)波半導體芯片(pian)(pian)、微(wei)波集成電路（MMIC）等微(wei)波半導體芯片(pian)(pian)的(de)測試需求。

【成果圖片】

【聯系人】

集團聯系人：丁一牧，010-84352395（13552993699），dingyimu@vip.163.com

成果聯系人(ren)：汪定華，18505528366，m13910851102@163.com

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【責任編輯：王莉】